深圳 卓茂X-Ray检查机 X光机 半导体检测

功能：
载物台可以沿X Y方向运动，探测器与光管可以沿Z方向运动，速度可分慢速、中速、快速。
图像探测器可60°倾斜，以*特的视角观察样品缺陷且对样品无干扰。
光管使用寿命长，终生免维护
可以检测低于2.5微米的缺陷，检测重复精度高
可编辑的检测程序，实现CNC自动化检测
检测空间大，可容纳各种大尺寸的样品，载物台可载重10KG的物品。
**大自动导航窗口,鼠标点击即可将载物台移动到所指位置
优势：
有效检测范围更大，提高产品的放大倍率以及检测效率。
轻易辨别产品侧倾面缺陷，实现无死角检测。
采用**良好日本滨松（HAMAMATSU）X射线源
可轻易辨别半导体封装金线弯曲、金线断裂
适合大批量检测,提高检测效率,自动判断NG产品
**大载物台，可放置***控主板、**长LED灯条、适用于各种领域的电子产品
操作非常便捷，可以快速找到物品缺陷，提高检测效率